ELLIP-SR-Ⅱ 型产品是一款集光机电于一体高精度高稳定全自动椭圆偏振光谱仪。仪器主体采用高强度钢铝架构，底座采用立体式圆盘设计,使用高精度涡轮蜗杆承载系统加强入射角控制精度，提高仪器机械强度及稳定性，可通过电脑控制自动改变入射角同时与光谱测量相结合。

仪器状态调整、参数设置、数据采集一直到数据处理，均通过计算机自动完成，方便用户使用。可工作于从近红外至紫外的宽广光谱区，波长连续可调，入射角度从20度到90度内电脑控制自动连续可调。

主要适用于科研院所的信息光电子功能薄膜、体材料的光学性质和结构特性研究，可被研究材料种类包括：金属和合金、元素和化合物半导体、绝缘体、超导体、磁性和磁光材料、有机材料、太阳能薄膜、多层薄膜材料、液体材料等。在测量中，可按研究条件同时对入射角和波长进行自动精细扫描，从而增加研究的灵活性，便于用户获得更多的光谱信息进行数据分析，提高研究的质量和可靠性，并实现无接触无损伤测量。

该系列光谱仪的性能指标达均已达到国际同类技术的先进水平，产品畅销国内及出口海外市场。

主要特点
WINDOWS友好操作界面
电脑控制自动改变入射角，可提高入射角精度，无需手动改变。
实测光学常数种类：复折射率、复介电函数、吸收系数、反射率。

主要用途
1.各种功能材料的光学常数测量和光谱学特性分析；
2.测量薄膜材料的折射率和厚度； 测量对象包括：金属、半导体、超导体、绝缘体、非晶体、超晶格、磁性材料、光电材料、非线性材料；测量光学常数：复折射率的实虚部、复介电常数的实虚部、吸收系数a、反射率R。